拓扑缺陷

简介

　　拓扑缺陷，是双重动力系统（Twin Drive System, TD）的关键理论。在这理论中的GN粒子主要在机体内部应用，从00高达、CB-0000G-C再生高达、量子型00三部机体

GN-Drive的位置得知，粒子的同步不需要在机体外部进行。拓扑缺陷的理论主要是指利用GN粒子反应时的相互融合而产生平方化的粒子量。当正电子将与电子湮灭前便跟另一

正电子反应，令一个光子反应时同时与两个正电子反应，所产生的重粒子便如二氧化碳的分子结构相似。

　　在00第2季提到的拓扑缺陷率是指双正电子之间的融合率和光子与双正电子的反应率的平均值，当其中一面与另一方面的反应率差高于10%便会因GN-Drive的TD包围组件超额

而急速下降。所以刹那的00高达在第2集使用Trans-AM时随时使TD包围组件过份超额而自爆。同时在刹那启动Trans-AM时，菲露特·古蕾斯于舰中也提过粒子的融合率停滞在

73℅。但在理论上，光子与双正电子的反应率应接近83℅，所以伊恩·瓦斯提才担心连TRANS-AM也不能令拓扑缺陷的效能更稳定至80℅。GNR-0100强化战机的稳定GN-Drive系

统其实就是额外的TD包围组件，令GN-Drive中原本的TD包围组件不会超额，也能令机体在Trans-AM时所有TD包围组件可以更有效地重组已反应的双正电子和光子或使重粒子更

有效地反应成光子与正电子。当中原装GN-Drive的TD包围组件令粒子拥有反向反应，因而拓扑缺陷的反向反应时也是如此。